반도체 테스트와 프로그래밍 작업에 필수적인 IC51-1284-1702 테스트 스탠드를 소개합니다. 이 제품은 QFP128 패키지 IC를 테스트하고 프로그래밍하기 위한 전문 장비로, 특별히 설계된 접지 기둥(GND)과 노출된 패드(EPAD)를 포함하여 최적의 테스트 환경을 제공합니다. 고정밀 0.4mm 피치로 설계된 이 테스트 스탠드는 YAMAICHI의 기술력이 집약된 제품으로, 전자 엔지니어와 테스터들에게 필수적인 도구입니다.
🔍 IC51-1284-1702 테스트 스탠드의 핵심 특징과 기능 구매하기
IC51-1284-1702 테스트 스탠드는 QFP128, TQFP128, LQFP128 패키지를 지원하는 프로그래밍 어댑터입니다. 고품질 소재로 제작되어 내구성이 뛰어나며, 최대 10,000회 이상의 기계적 수명을 보장합니다. 이 제품의 가장 큰 특징은 0.4mm 초정밀 피치로 설계되어 최신 고밀도 IC 패키지에 완벽하게 대응할 수 있다는 점입니다. 접촉 저항은 10mA 기준으로 50m 옴 이하로 유지되어 안정적인 테스트 성능을 제공합니다.
- 클램쉘 디자인으로 쉽고 빠른 IC 장착과 제거 가능
- 0.4mm 초정밀 피치로 고밀도 패키지 지원
- 내구성이 뛰어난 고품질 소재 사용
- 10,000회 이상의 기계적 수명 보장
- 낮은 접촉 저항(50m 옴 이하)으로 정확한 테스트 결과 제공
⚡ 접지 기둥(GND)과 노출 패드(EPAD)의 혁신적인 설계 자세히 보기
IC51-1284-1702 테스트 스탠드의 가장 혁신적인 부분은 접지 기둥(GND)과 노출 패드(EPAD) 시스템입니다. 이 제품은 QFP 패키지의 노출된 패드를 전기적으로나 열적으로 접지할 수 있는 다양한 솔루션을 제공합니다. 푸시 커버 움직임과 연동되는 센터 핀 설계로, 커버가 눌려 있는 동안 센터 핀이 완전히 후퇴하여 패키지가 정확한 위치에 안착될 수 있게 합니다. 이는 IC 손상 없이 정확한 테스트를 가능하게 하는 중요한 기능입니다.
| 접지 기능 | 장점 |
|---|---|
| 움직이는 접지 핀 | IC 삽입 시 손상 방지 |
| 푸시 커버 연동 작동 | 자동 로딩 호환성 유지 |
| 다중 접지 솔루션 | 전기적/열적 접지 모두 지원 |
| 중앙 구리 포일 | 다른 평면에 있는 노출 패드 연결 |
🔧 IC51-1284-1702의 다양한 응용 분야 할인받기
IC51-1284-1702 테스트 스탠드는 여러 분야에서 활용될 수 있습니다. 특히 반도체 개발, 품질 관리, 생산 라인 테스트, 연구 개발에 필수적인 장비입니다. 이 제품은 자동차 산업에서 특히 중요하게 사용되는데, 열악한 환경에서 작동하는 전자 장치의 신뢰성 테스트에 이상적입니다. QFP 패키지가 갈매기 날개 모양의 리드 피트로 PCB에 적용된 진동, 휨, 뒤틀림 및 기타 스트레스에 가장 내성이 강하기 때문입니다.
- 반도체 개발 단계에서의 IC 테스트
- 생산 라인에서의 품질 관리
- 자동차 전자 부품 검증
- 연구소 및 학술 기관의 실험
- 고주파 RF 성능 테스트
📈 열 방출 및 고주파 성능 향상을 위한 설계 상품리뷰보기
IC51-1284-1702는 열 방출 및 고주파 성능을 고려한 설계가 돋보입니다. 일반적인 QFP 패키지는 패키지 본체를 통해 위쪽으로 열을 방출하는 반면, 이 테스트 스탠드에 장착된 QFP의 노출 패드(EPAD)는 열을 PCB 방향으로 분산시켜 안정성과 성능을 크게 향상시킵니다. 또한 노출 패드를 접지에 연결하면 루프 인덕턴스가 감소하여 고주파 응용 분야에서 탁월한 성능을 발휘합니다.
| 성능 요소 | IC51-1284-1702의 장점 |
|---|---|
| 열 관리 | 향상된 열 방출로 안정성 증가 |
| 고주파 특성 | 낮은 루프 인덕턴스로 최대 2.4GHz 지원 |
| 접촉 안정성 | 이중 숄더 접촉으로 신뢰성 보장 |
| 자동화 호환성 | 자동 로드 기능으로 생산성 향상 |
🔋 Type3 모델의 특별한 기능과 장점 더보기
IC51-1284-1702 테스트 스탠드의 Type3 모델은 특별한 기능을 추가로 제공합니다. 이 모델은 개선된 접지 메커니즘과 열 관리 시스템을 갖추고 있으며, 더 높은 신뢰성과 내구성을 제공합니다. Type3 모델은 특히 자동차 업계와 같이 까다로운 환경에서 사용되는 IC를 테스트하는 데 최적화되어 있습니다. 또한 PCB에 장착된 디커플링 커패시터 및 기타 민감한 SMT 구성 요소에 대한 여유 공간을 제공하여 저임피던스 응용 분야에 필수적인 요소를 지원합니다.
- 개선된 접지 메커니즘으로 신뢰성 향상
- 향상된 열 관리 시스템으로 장시간 테스트 지원
- 자동차 산업 표준에 부합하는 내구성
- 저임피던스 응용 분야를 위한 설계 최적화
- 디커플링 커패시터를 위한 PCB 여유 공간 제공
💯 전문가들이 인정하는 IC51-1284-1702의 품질 구매하기
IC51-1284-1702 테스트 스탠드는 전 세계 전자 공학 엔지니어들에게 높은 평가를 받고 있습니다. YAMAICHI의 기술력과 품질 관리 시스템이 집약된 이 제품은 정밀한 테스트 결과를 보장하며, 고객의 신뢰를 얻고 있습니다. 특히 노출 패드의 접지 능력은 고속 실리콘 기술에 매우 적합하여, 최대 2.4GHz의 작동 주파수를 지원할 수 있습니다. 이러한 전기적 성능과 함께, 기계적으로도 우수한 내구성을 제공하여 장기간 사용에도 일관된 테스트 결과를 보장합니다.
| 평가 항목 | IC51-1284-1702 성능 |
|---|---|
| 내구성 | 10,000회 이상 사용 가능 |
| 접촉 정확도 | 0.4mm 피치에서도 안정적인 접촉 |
| 열 성능 | 표준 QFP 대비 110% 향상된 열 효율 |
| 전기적 성능 | 최대 2.4GHz 주파수 지원 |
📊 IC51-1284-1702 테스트 스탠드 구매 시 고려사항 자세히 보기
IC51-1284-1702 테스트 스탠드를 구매할 때는 몇 가지 중요한 사항을 고려해야 합니다. 먼저, 테스트하려는 IC 패키지의 크기와 피치가 이 제품과 호환되는지 확인하는 것이 중요합니다. 또한 테스트 환경과 목적에 따라 적절한 모델을 선택해야 합니다. 특히 열 방출과 접지가 중요한 응용 분야에서는 이 제품의 특성을 최대한 활용할 수 있는 PCB 설계가 필요합니다. 노출 패드는 최적의 열 및 전기적 성능을 위해 PCB에 직접 납땜되어야 합니다.
- IC 패키지 크기 및 피치 호환성 확인
- 테스트 목적에 따른 모델 선택
- PCB 설계 시 노출 패드 연결 고려
- 열 방출을 위한 PCB 구리 다각형 및 비아 설계
- 고주파 응용 분야를 위한 접지 경로 최적화